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主營(yíng)產(chǎn)品:X射線熒光光譜儀

速報(bào)!波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀的新進(jìn)展

點(diǎn)擊次數(shù):2799  更新時(shí)間:2020-10-13

X射線熒光光譜分析在20世紀(jì)80年代初已是一種成熟的分析方法,是實(shí)驗(yàn)室、現(xiàn)場(chǎng)分析主、次量和痕量元素的方法之一。X射線熒光光譜儀(XRF)是利用原級(jí)X射線或其他光子源激發(fā)待測(cè)物質(zhì)中的原子,使之產(chǎn)生熒光(次級(jí)X射線),從而進(jìn)行物質(zhì)成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀,有波長(zhǎng)色散型和能量色散型兩種,適用于測(cè)定鈹(Be)以上的化學(xué)元素的含量。它的優(yōu)點(diǎn)是不破壞樣品,分析速度快,分析精度高,樣品制備簡(jiǎn)單。X射線熒光光譜儀還可以用于微區(qū)分析及確定分層和涂層的厚度和成分。


X-射線與物質(zhì)的交換

 

XRF熒光光譜儀是可以對(duì)任何種類的樣品進(jìn)行元素分析的分析技術(shù),無(wú)論分析的樣品是液體、固體、漿料還是粉末。它是一種可靠的技術(shù),結(jié)合了高精度和準(zhǔn)確性以及簡(jiǎn)便、快速的樣品制備等優(yōu)點(diǎn)。可以在要求實(shí)現(xiàn)高處理量的工業(yè)環(huán)境下自動(dòng)完成使用準(zhǔn)備,并且提供定性和定量的樣品相關(guān)信息。

XRF熒光譜儀系統(tǒng)通常分為兩大類:波長(zhǎng)色散型(WDXRF)和能量色散型(EDXRF)。

EDXRF熒光光譜儀,一般由光源(X-線管)、樣品室及檢測(cè)系統(tǒng)等組成,與波長(zhǎng)色散型熒光光儀的區(qū)別在于他不用分光晶體及精密運(yùn)動(dòng)裝置(測(cè)角儀)。


EDXRF熒光光譜儀光源

 

EDXRF光譜儀的特點(diǎn):

儀器結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單小巧,省略了精密運(yùn)動(dòng)裝置
沒(méi)有分光晶體
X射線管功率低(一般<50W)
無(wú)需昂貴的高壓發(fā)生器和冷卻系統(tǒng)(空氣冷卻即可)
可同時(shí)執(zhí)行元素分析

優(yōu)點(diǎn)在于X射線利用率高,可同時(shí)檢測(cè)多元素,價(jià)格低;
缺點(diǎn)是靈敏度低、分辨率低、檢出限高(相對(duì)于WDXRF)。

 

WDXRF一般由光源(X-射線管)、樣品室、分光晶體和檢測(cè)系統(tǒng)等組成。它可以分析從鈹(Be)到鈾(U)的各種元素,濃度范圍從100%到低至亞ppm級(jí)。

WDXRF一般由光源(X-射線管)

 

WDXRF以其*的準(zhǔn)確度、精密度和可靠性著稱。這種強(qiáng)大的分析技術(shù),使其可用于所有形式的工業(yè)應(yīng)用,包括:水泥生產(chǎn)、玻璃生產(chǎn)、采礦、選礦、鋼鐵及有色金屬、石油和石化、聚合物及相關(guān)行業(yè)、制藥、保健產(chǎn)品和環(huán)保等。

WDXRF光譜儀中,X射線光管用作直接照射樣品的光源,并且使用波長(zhǎng)色散式檢測(cè)系統(tǒng)來(lái)測(cè)量樣品發(fā)出的熒光。分光晶體根據(jù)波長(zhǎng)(而不是能量)來(lái)分離X射線,可用于識(shí)別每種不同元素發(fā)出的特征輻射。此類分析可以通過(guò)逐一(依次)測(cè)量不同波長(zhǎng)的X射線強(qiáng)度來(lái)完成,或者在固定位置同時(shí)測(cè)量所有不同波長(zhǎng)的X射線強(qiáng)度。X射線管需要高功率,需要專門的冷卻裝置(水冷或油冷),需要分光晶體及測(cè)角儀,因此波譜儀的價(jià)格往往比能譜儀高。

 

WDXRF光譜測(cè)定的優(yōu)勢(shì):

•高分辨率,特別適用于輕重元素

•低探測(cè)限制,特別適用于輕重元素

•穩(wěn)定的分析

•高處理量

WDXRF一般分為順序掃描型和多道同時(shí)型(固定道)


掃描道波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀

 

波長(zhǎng)色散型的儀器發(fā)展現(xiàn)在,掃描道與固定道交替發(fā)展,其優(yōu)缺點(diǎn)也是互相印證的:

對(duì)于掃面型儀器:

1,分析元素的數(shù)量不受限制,除了輕的幾個(gè)元素外幾乎可以作全元素分析,這是優(yōu)點(diǎn)。由于元素是分時(shí)測(cè)量的,測(cè)量總時(shí)間是每個(gè)元素的測(cè)試時(shí)間之和,為了保證每個(gè)元素要很短時(shí)間測(cè)完并達(dá)到計(jì)數(shù)率要求,大功率X光管和高速熒光信號(hào)處理就是必須的。大功率X光管和高壓電源的使用,是技術(shù)能力的體現(xiàn),當(dāng)然也是問(wèn)題多發(fā)點(diǎn)所在,維護(hù)成本很高。

2,高精度測(cè)角儀是單通道掃描式儀器的技術(shù)核心之一,對(duì)于復(fù)雜的應(yīng)用幾乎是必須的。對(duì)于特定的應(yīng)用有些浪費(fèi)。

 

對(duì)于固定道儀器:

1,各個(gè)通道同時(shí)工作,這樣測(cè)試時(shí)間就可以設(shè)定為難滿足精度的元素通道所需的時(shí)間??倻y(cè)定時(shí)間就是這個(gè)時(shí)間,一般幾十秒到2、3百秒。根據(jù)這個(gè)時(shí)間,多道同時(shí)式分析儀一般只需要選用小功率X光管(一般幾百瓦)即可滿足對(duì)總計(jì)數(shù)率的要求。小功率X光管和高壓電源及冷卻系統(tǒng)的成本低和壽命長(zhǎng),故障率低,維護(hù)量小。

2,分光系統(tǒng)無(wú)運(yùn)動(dòng)部件,計(jì)數(shù)率精度可以達(dá)到很高水平。

3,對(duì)信號(hào)處理電路要求較低。

4,由于采用多個(gè)通道,每個(gè)通道都需要獨(dú)立的分光。,衍射晶體、探測(cè)器、放大器和多道脈沖處理器,加起來(lái)成本也還是比較高。通道數(shù)量總是要受到結(jié)構(gòu)的限制,不可能很多,這也是多道同時(shí)式分析儀一般少在行業(yè)應(yīng)用的原因——分析元素的數(shù)量有限。

 

特定用戶需要根據(jù)自己的需求特點(diǎn)選擇合適的WDXRF儀器。

 

近些年來(lái),X射線儀器仍然取得了巨大的進(jìn)步,如:全反射X射線熒光光譜儀(TXRF)、聚焦微束X射線熒光光譜儀(μXRF)、偏振X射線熒光光譜儀(EDPXRF)等相繼商品化。

 

WDXRF光譜儀近年同樣取得了顯著的技術(shù)進(jìn)步:

X射線管

1)4KW大功率:4KW薄窗X射線管,對(duì)于19K~92U元素范圍的重元素,提高靈敏度30%以上,對(duì)于4Be~17Cl元素范圍的輕元素,提高靈敏度70%以上。同時(shí),4KW薄窗X射線管的冷卻方式的改進(jìn),以及X射線發(fā)生器控制方式的發(fā)展,使得4KW薄窗X射線管在應(yīng)用上的可靠性大大增強(qiáng)。X射線管功率也有小型化趨勢(shì),使自身的體積縮小,而且無(wú)需外冷卻水循環(huán)系統(tǒng),如200wX射線管,性價(jià)比高、使用成本低,適用于要求固定的用戶。

2)鈹(Be)窗超薄化:X射線管的鈹窗厚度一般為75~125um,有的產(chǎn)家的X射線管的鈹窗厚度僅有30um,這樣大大提高了初級(jí)X射線的透射率。薄窗X光管對(duì)Be,B,C,N等超輕元素的分析,對(duì)微量樣品分析,微區(qū)分析的發(fā)展起著推動(dòng)作用。

3)X光管端窗超銳化:這種超銳X射線管外形*,頭部尖細(xì),內(nèi)部采用陶瓷絕緣,其設(shè)計(jì)更加緊湊、合理、準(zhǔn)確。窗口至樣品的距離較常規(guī)端窗管短(約16mm),大大提高了X射線輻照強(qiáng)度。而且,由于采用優(yōu)良的絕緣和長(zhǎng)壽命的燈絲,延長(zhǎng)了X射線管的使用壽命。

4)X光管雙靶化:為了使輕重元素都能獲得激發(fā)效率,一些儀器廠家將X光管設(shè)置成雙靶型。如日本株式會(huì)社理學(xué)。

 

高壓發(fā)生器:

近年來(lái),譜儀的高壓發(fā)生器幾乎都采用高頻變換高壓發(fā)生器。發(fā)生器的高壓穩(wěn)定性也較高,一般說(shuō)來(lái),當(dāng)網(wǎng)路電壓波動(dòng)不超過(guò)10%時(shí),穩(wěn)定性可達(dá)±0.0005%,從而保證了X射線管所發(fā)射X射線強(qiáng)度的高穩(wěn)定性。

 

測(cè)角儀:

測(cè)角儀是順序式X射線熒光光譜儀的核心部件,也是同時(shí)式多道X射線熒光光譜儀中掃描的基本部件。如一些儀器制造商分別用無(wú)齒輪莫爾條紋測(cè)角儀和激光定位光學(xué)傳感器驅(qū)動(dòng)測(cè)角儀,取代傳統(tǒng)θ/2θ齒輪機(jī)械運(yùn)動(dòng)的測(cè)角儀,2θ掃描精度也由齒輪機(jī)械運(yùn)動(dòng)的±0.001°提高到±0.0002°,2θ掃描速度提高到80°/s。

 

探測(cè)器和計(jì)數(shù)器:

在現(xiàn)代波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀中,探測(cè)器和計(jì)數(shù)器的大線性計(jì)數(shù)率由原來(lái)的105s-1擴(kuò)展到106s-1,甚至大線性計(jì)數(shù)率可達(dá)4106s-1。正比計(jì)數(shù)器逐漸由原來(lái)的流氣式向封閉式過(guò)度。采用封閉式正比計(jì)數(shù)器后,工作時(shí)既無(wú)需配制工作氣體,又防止了氣體質(zhì)量的不一致和流量變化對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,從而保證了測(cè)量結(jié)果具有更好的再現(xiàn)性。

X射線儀器正在越來(lái)越多的行業(yè)得到重視,已經(jīng)涌現(xiàn)出一批新的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn),如環(huán)境監(jiān)測(cè)領(lǐng)域:土壤和沉積物、空氣顆粒物新出了波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜法檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),大大提高了檢測(cè)效率。進(jìn)一步證明了WDXRF儀器的可靠性、高精度、低檢出限和旺盛的生命力。

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